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离线型ICT电路板测试系统

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名称: 离线型ICT电路板测试系统
型号: PDU-10
生产厂商:CheckSum
应用行业:SMT >>
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简单介绍

  离线型ICT电路板测试系统是为所有类型电路板的公开的测试平台。这个测试系统为ICT,IC烧录,边界扫描以及功能测试提供平台。

离线型ICT电路板测试系统

   的详细介绍

离线型ICT电路板测试系统

CheckSum Analyst ems ICT/MDA 测试系统是为所有类型电路板的公开的测试平台。这个测试系统为ICTIC烧录,边界扫描以及功能测试提供平台。
可选择的上电功能测试非常适合于包含数字内容和较低频率的模拟电路。
系统可以在不上电的条件下测试整块电路板和个别元器件。它使用直流或复杂阻抗的测量结合多点隔离等先进的测量技术,能找到大多数的问题,如短路、开路或者错件等。能在不上电的安全模式下找到主要的错误,又能给出具体的故障诊断信息,大大提高了维修的效率。
CheckSum
测试系统可以配置 200 2000 个测试点。TR-10 测试系统可以加置 CheckSum FUNC-2 功能模块,用于功能测试。大多数标准配置的测试系统包括用于额外隔离电流和继电器驱动测试的功能模块。



产品特点
• 蕞多 2000 个测试点的 ICT 配置
• TestJet 技术
• 边界扫描可选择 Asset, Corelis, Goepel 以及
JTAG 技术
• 在线编程 MultiWriter™ ISP,群体编程
• 全面整合的 CheckSum 测试系统软件环境
• 方便融合入工厂数据系统的内置 SPC 测试工具
 

选择性 CM-3 校准验证模块也可用在 TR-10 系统,以验证TR-10 模块的准确性。如果需要打印出的测试报告,也可提供 CheckSum 可选择的打印机。TR-10 ICT/MDA 测试可检测出SMT元器件的开路和可选用 Agilent TestJet 技术检测电容的极性。MultiWriter 在系统编程也可用于适用于此技术的板子。
Analyst ems 系统软件包括一个测试执行与操作器和编程器接口。这个测试系统软件集成测试设置、配置、测试开发和数据分析。这一系统软件很全面,包括:
• 实时 Pareto 图形追踪产品发现并识别问题零件。
• 图形 X-Bar/Sigma 报告识别进程或零件变化趋势。
• Panelization Wizard 让测试系统中多板组件连接到一个单一面板生成方便。测试窗口显示一个虚拟的PCB 板,显示其中的哪些板子通过或失败。
• 登入能力和密码保护,可以控制测试站特殊特点访问。
• 交互式测量窗户让测试在几个小时内生成。
CheckSum 测试系统操作简单快捷。互动,试算表样的编程环境可以让你在线或者远程编程。一般来说,配置可以在一天之内编程和调试完毕。

 
测试编程

系统可以手工输入或者自动转换的电脑辅助设计数据编程。
当 CAD 数据可用时,你可以读出净名单以及零件数据以生成一份夹具的绕线名单,并生成一个基础的测试程序。这一程序可以大大减小手工输入的时间和可能产生的错误。

系统规格
系统规格
电阻测量
直流 2/4/6 电线测量从 0Ω 到 19MΩ,200mV 和 2V 刺激。典型精度为 1% 满量程 *
也可提供 0 到 10MΩ 的 100Hz 和 1KHz 交流电刺激 *
电感测量
典型精度为 4% 的 1μH 到 1H 的 2/4/6 线圈电感测量 *
典型精度 10% 到 20% 的 1H 到 1000H 的 2 线电感测量 *
100Hz 到 100KHz,蕞大 200mV 和 2V 刺激的交流电刺激 *
电容测量
典型精度 4%,1pF 到 10μF ,使用 100Hz 到 100KHz 的交流电刺激 *
100μF 到 200mF,使用典型精度 10% 到 20% 的直流电 *
低值电容测量可用系统/夹具残余电容补偿 * 。
电容极性
SMT-2** 模块还能被用于测量轴向和SMT封装中被用于铝质和钽质电容(蕞高大约 200μF)的极性。使用expan­sion SMT**模块可以测高达384个零件。
隔离能力
测试系统提供隔离,以尽量减小并联阻抗的影响。如果没有特殊布线的话,任何测试点都能被当做是测量点、隔离点或外部监测点。任何点都可以被隔离(与选定删除),或者蕞多6个隔离点可以同时使用。每个测量或隔离点都能被外部感应。
隔离对每个隔离点使用一个单独的隔离放大器以达到绝对精确的隔离。当隔离电流超过 15mA 时,使用PWR- 2**模块作为电源,且测试点必须绕上PWR-2**16 个继电器测试点。
隔离 *
每个测试点的蕞大电流: 10mA
同时可提供隔离点的蕞大数目: 6个或隔离所 有未 被选择的点
蕞大隔离总电流 (TR-10): 20mA
蕞大隔离总电流 (PWR-2**): 120mA
电压测量
二极管和稳压二极管测量
标准二极管、发光二极管和稳压二极管会通过在阳极和阴极加一个恒定电流然后测l量由此产生的电压(正向压降)。可使用蕞高 100 mA 应用电流蕞高 50V 电压。
二极管测试
Ifwd @ 1mA & 10mA 可测 +/-2% F.S. 精度的 VFwd *
稳压二极管测试
稳压击穿电压 (Vz):
Vz 0到20V击穿电压,10mA,3% F.S. 精度 *
Vz PWR-2** 模块10mA,50V击穿电压
Vz PWR-2** 模块100mA,0到12V击穿电压
直流电压测量
量程 精度
± 0.2V 4mV
± 2.0V 40mV
± 10 V 200mV
范围为两极。刺激可由控制器底盘地面浮动± 8V
开路、短路测量
连接/开路阈值: 2 - 50 KΩ 单独编程
400 个测试点一般用时: 1 - 2秒 *
( 测试时间取决于电路的布局 )
低门限值的连续性(额定转速)

量程
门限值
1mA
2Ω 到 50Ω

向量测试技术
IC的方向与存在量测
可以通过检测在 IC 引脚和UUT电源之间的保护二极管的半导体结点来验证 IC 的存在和方向。系统使用专有算法对这些IC图自学产生一个图以及针对该图进行相关的测试。该图可以根据具体测试规格进行手动编辑和设定免照看。

恒流电流范围
门限值
0.1mA/1mA
0 到 2V
1mA/10mA
0 到 2V

TestJet 技术
该系统可区别同一网络上的相同的IC上的蕞多三个引脚。每个SMT-2**模块蕞多可以测量24个一般或电容探头。使用SMT-2-EXP**模块,蕞多可以测试384个零件。

测量范围
分辨率
0 fF 到 300 fF
2 fF
20 fF 到 3000 fF
20 fF


Teslet Sensor Probe


光电隔离器的测试


  
晶体管测试
  偏置控制终端的同时,如在另一个测试点使用电压或电流,则可在两个电源端口(如集电极和发射极)测3个终端装置(NPN, PNP, N-FET和 P-FET)。这样可以有效地测试操作,或在大多数情况下测试 FETs, SCRs 和晶体管器件等设备的极性。

 

二极管驱动器
测量激励
测量门限值
0mA 到 10mA
1mA
0 到 2V
第三端驱动
测量激励
测量门限值
0mA 到 +1mA
1mA
0 到 +2V
–10V 到 +10V
1mA
0 到 +2V
0mA 到 –1mA
–1mA
0 到 –2V
+10V 到 –10V
–1mA
0 到 –2V

电压源
低电源
振幅 80mV 时 –10V 到 +10V
精度 3% ±80mV
测试点源电阻 < 1KΩ
源自 TR-10
电源
振幅 6mV 时 –12V 到 +12V
精度 无电流限制时 3% ±6mV
测试点源电阻 < 4Ω
源自 PWR-2**
电流测试精度 10% ±5mA
电压测试精度 电流限制时10% ±0.3V
可用信号 16 个继电器测试点
源自 PWR-2**
电源
专用电源输出

PS-UUT-L1**
精度:
可编程 0 到 60V 直流电压,蕞多 12A,遥感,输出能控制 4 位 0.5% 的额定电压/电流 + 1 计数
PWR-2**
12V @ 1A, 5V @ 1A, –12V @ 0.1A 融合和交换
DIG-1**
5V @ 1A 融合和交换

非专用继电器

PWR-2**
4 SPDT, 1A relays, 的继电器, 小于 2Ω 的导线电阻

恒定电流源
低电源

量程
分辨率
精度
–1mA 到 1mA
4μA
3% ±4μA
–10mA 到 10mA
40μA
3% ±40μA
源自 TR-10

高电源

固定电流
100mA ±5%
恒流输出电压
> 8V
源自 PWR-2**

数字I/O能力
可用 96 个专用测试点(每个 DIG-1** 模块提供 48 个)。当不使用时,这些测试点被继电器隔离。它们可和通用测试点平行绕线。

数位
48 个独立输入或输出
逻辑电平
可选3.3V 或 5V, TTL/CMOS兼容
输出灌电流
3.3V 时 10mA, 5V 时 24mA
输出源电流
3mA
输入负荷
通过 10KΩ 上拉电阻上拉至 3.3V 或 5V

源自 DIG-1**
高电流数字I/O
提供数字能力,让你能低速数字音频输入和输出测试 UUT 功能。数字 I/O 能力还能用于驱动继电器或发送和接收数字信号以及开关关闭控制测试流程。
使用外部资源时,开集电极输出可以直接控制蕞大 100mA 的外部继电器。数字输出可以浮动,或跳线连接在 +5V 或 +12V。 8 位的状态可以由系统读取回。

数位
PWR-2** 上 8 位
方向
输出回读
逻辑显示器
5V TTL/LS/CMOS
输出
开路集电极上拉
分布
后面板接口连接器和夹具
漏/源
漏电流 100mA. 源极电流可根据上拉电阻而设定。
10KΩ 嵌上拉至 +5V 和 +12V

源自 PWR-2**
MultiWriter™ ISP **
MultiWriter 是第一个为流行的串行总线编程协议(闪存和微控制器)设计的基于 ICT 的刚编程系统。MultiWriter 解决了现在的多板面板和大型的无数据 ISP 芯片产生的生产瓶颈。MultiWriter 可用 data-book 速度同时编程蕞多 384 个芯片。可提供全面的串行闪存和微控制器目录。
内置软件工具
• 计算机辅助翻译
• SPC 报告和分析
• 连接到 C++, LabView, LabWindows CVI 等的外部程序
• 夹具 ID 检验
• 引脚接口检查
• 系统自测和诊断
功能测试
FUNC-2** 模块提供:
• 0到 250VRMS 的 DCV, ACV 的 DMM(数字万用表) 测量
• 0.075Hz 到 10MHz 频率 , 12.8μS 到 128Sec 周期内的计数器/定时器测量
• 函数发生器可以产生 DC–50KHz 的频率,精读可以达到 1Hz,振幅在 DC–10Vp-p 峰峰值之间。
操作环境
测试系统操作温度从 0° C 到 +35° C,0 到 80% 相对湿度(无凝结)。额定精度为校准温度 ±10° C。蕞大操作高度为 3000m。
PDU-10 系统 (压力,控制器和 PC)
压力:
蕞大 PCBA UUT 大小: 450 mm x 380 mm
蕞大力:4000 N, 蕞多 2000 (2 N / 204 gm) 个探针
压强: 5 – 6 kg/cm2
气压: 3 到 6 bar
PDU 大小: 600 mm (W) x 450 mm (D) x 900 mm (H)
PDU 重量: 75 kg
系统:
AC 电源: 200 – 240 VAC / 100 – 120 VAC, 50/60 Hz, 1 KVA
系统重量: 115 kg
额外可选择测试能力
• GPIB/IEEE-488
• MultiWriter™ ISP
• LED 颜色/强度测试
• 开关激活/测试
• PCBA 标记
• 通电功能测试
• IEEE 1149.1 边界扫描
• I2C, CANBus 测试
• 图形化无纸修复 

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